更新時間:2024-11-02
10000V10KV高壓絕緣電阻測試儀、兆歐表濕度增加,表面泄漏增大,體電導電流也會增加。溫度升高,載流子的運動速率加快,介質材料的吸收電流和電導電流會相應增加,據有關資料報道,一般介質在70C時的電阻值僅有20C時的10%。
SHJX-III-10000V絕緣電阻測試儀于試驗室或現場做絕緣測試試驗。內含高精度微電流測量系統、數字升壓系統。只需要用一條高壓線和一條信號線連接試品即可測量。測量自動進行,結果由大屏幕液晶顯示,并將結果進行存儲。
一、主要特點
二、主要技術性能
測試電壓 | 測量范圍與精度 | 測量范圍與精度 | ||
250V | 0.1M-1G | 10% | 1-10G | 20% |
500V | 0.1M-20G | 10% | 20-200G | 20% |
1000V | 0.1M-40G | 10% | 40-400G | 20% |
2500V | 0.1-100G | 10% | 100-1000G | 20% |
5000V | 0.1-200G | 10% | 200G-2000G | 20% |
10000v | 0.1-200G | 10% | 200G-2000G | 20% |
顯示方式:數字 溫度測量:-45℃~125℃
10000V10KV高壓絕緣電阻測試儀、兆歐表試驗電壓范圍:0.25KV, 0.5KV,1KV,2.5KV,5KV,10KV
短路電流:≧5mA 測量時間:1分鐘~10分鐘(與測量方式有關)
充電電源:180~270VAC ,50Hz/60Hz±1% (市電或發電機供電)工作環境:溫度-10~40℃,相對濕度20~80%。
三、操作部件功能
1.L接線端 :“L”為高壓輸出端,稱為線路端,由高壓電纜引至被測線端,例如接至電機繞組、電纜線芯。
2.G接線端 :“G”稱為屏蔽端,用于三電極法測量絕緣材料或電纜的體積電阻,它接至三電極的保護環端。
3.E接線端 :“E”稱為地端,接至被測物的地、零端。例如電機外殼金屬、變壓器鐵芯、電纜屏蔽層。
4、注意事項及其它
請注意安全,L為高壓端!E為地端,必需接大地!
四、儀器的配套性
1 | 主機 | 一臺 |
2 | 紅色線 | 一根 |
3 | 黑色線 | 一根 |
4 | 充電線 | 一根 |
5 | 產品說明書 | 一份 |
6 | 出廠檢測報告 | 一份 |
7 | 合格證 | 一張 |
影響電阻或電阻率測試的主要因素
a.環境溫濕度
一般材料的電阻值隨環境溫濕度的升高而減小。相對而言,表面電阻(率)對環境濕度比較敏感,而體電阻(率)則對溫度較為敏感。濕度增加,表面泄漏增大,體電導電流也會增加。溫度升高,載流子的運動速率加快,介質材料的吸收電流和電導電流會相應增加,據有關資料報道,一般介質在70C時的電阻值僅有20C時的10%。因此,測量材料的電阻時,必須指明試樣與環境達到平衡的溫濕度。
b.測試電壓(電場強度)
介質材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內保持不變,即歐姆定律對此并不適用。常溫條件下,在較低的電壓范圍內,電導電流隨外加電壓的增加而線性增加,材料的電阻值保持不變。超過一定電壓后,由于離子化運動加劇,電導電流的增加遠比測試電壓增加的快,材料呈現的電阻值迅速降低。由此可見,外加測試電壓越高,材料的電阻值越低,以致在不同電壓下測試得到的材料電阻值可能有較大的差別。
10000V10KV高壓絕緣電阻測試儀、兆歐表值得注意的是,導致材料電阻值變化的決定因素是測試時的電場強度,而不是測試電壓。對相同的測試電壓,若測試電極之間的距離不同,對材料電阻率的測試結果也將不同,正負電極之間的距離越小,測試值也越小。
c.測試時間
用一定的直流電壓對被測材料加壓時,被測材料上的電流不是瞬時達到穩定值的,而是有一衰減過程。在加壓的同時,流過較大的充電電流,接著是比較長時間緩慢減小的吸收電流,后達到比較平穩的電導電流。被測電阻值越高,達到平衡的時間則越長。因此,測量時為了正確讀取被測電阻值,應在穩定后讀取數值或取加壓1分鐘后的讀數值。
另外,高絕緣材料的電阻值還與其帶電的歷史有關。為準確評價材料的靜電性能,在對材料進行電阻(率)測試時,應首先對其進行消電處理,并靜置一定的時間,靜置時間可取5分鐘,然后,再按測量程序測試。一般而言,對一種材料的測試,至少應隨機抽取3~5個試樣進行測試,以其平均值作為測試結果。
d.測試設備的泄漏
在測試中,線路中絕緣電阻不高的連線,往往會不適當地與被測試樣、取樣電阻等并聯,對測量結果可能帶來較大的影響。為此:
為減小測量誤差,應采用保護技術,在漏電流大的線路上安裝保護導體,以基本消除雜散電流對測試結果的影響;
高電壓線由于表面電離,對地有一定泄漏,所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導線作為高壓輸出線并盡量縮短連線,減少*,杜絕電暈放電;
采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測試臺和支撐體,以避免由于該類原因導致測試值偏低。
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